书目详细信息
： 片上系统测试设计与优化
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-076918-3:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 片上系统测试设计与优化/.(瑞典)埃里克·拉森著/.孙仁杰译 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2024.01 |
| 载体形态项： | 10,314页:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书讨论了片上系统(SoC)测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。全书分为三部分，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并介绍了拉森和他的团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
| 并列题名： | Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization eng |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 测试 |
| 题名主题： | 集成电路 芯片 设计 |
| 非控主题词： | 片上系统(SoC) |
| 中图分类： | TP360.21 |
| 个人名称等同： | 拉森 (瑞典) 著 |
| 个人名称次要： | 孙仁杰 译 |
| 记录来源： | CN JCXA 20240910 |