| ISBN/价格: | 978-7-122-41269-0:CNY168.00 |
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| 作品语种: | chi |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 颗粒表征的光学技术及应用/.许人良著 |
| 出版发行项: | 北京:,化学工业出版社:,2022.08 |
| 载体形态项: | 412页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘: | 本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。 |
| 并列题名: | Optical technology and applications of particle characterization eng |
| 题名主题: | 颗粒 测量 研究 |
| 中图分类: | O572.21 |
| 个人名称等同: | 许人良 著 |
| 记录来源: | CN 北京人天 20260907 |