书目详细信息
： 电子器件辐射效应仿真技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-080501-0:CNY128.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子器件辐射效应仿真技术/.丁李利, 陈伟, 王坦著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2025 |
| 载体形态项： | 184页:;+图,照片:;+24cm |
| 丛编项： | 辐射环境模拟与效应丛书 |
| 提要文摘： | 本书主要介绍总剂量效应仿真技术、单粒子效应仿真技术、位移损伤仿真技术、瞬时剂量率效应仿真技术、辐射效应仿真软件等内容,给出粒子输运仿真、器件级仿真、电路级仿真等不同层级仿真手段在辐射效应研究中的应用案例。 |
| 题名主题： | 电子器件 辐射效应 仿真 |
| 中图分类： | TN6 |
| 个人名称等同： | 丁李利 著 |
| 个人名称等同： | 陈伟 著 |
| 个人名称等同： | 王坦 著 |
| 记录来源： | CN 241280 20260709 |