书目详细信息
： 电子元器件可靠性设计
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-019638-5:CNY49.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件可靠性设计/.王蕴辉, 于宗光, 孙再吉主编 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2007.09 |
| 载体形态项： | 514页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 电子可靠性工程技术实践丛书 |
| 题名主题： | 电子元件 可靠性 设计 |
| 中图分类： | TN602 |
| 个人名称等同： | 于宗光 主编 |
| 个人名称等同： | 孙再吉 主编 |
| 个人名称等同： | 王蕴辉 主编 |
| 记录来源： | hhxytsg |